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力科增加對USB4 2.0物理層測試的支持-云帆興燁

發(fā)表日期:2022/11/24 瀏覽次數(shù):

力科宣布支持USB4 2.0物理層合規(guī)性測試和驗證分析,更新其QualiPHY合規(guī)性測試軟件和SDAIII CompleteLinQ串行數(shù)據(jù)分析軟件,以支持測試新的通過USB Type-C電纜和連接器的USB 80 Gbps數(shù)據(jù)傳輸速度。

用戶對更高性能顯示器、擴展塢、集線器和存儲器的需求,以及保持與廣泛采用的USB Type-C連接器兼容性的愿望,促使USB Promoter Group推出USB4 2.0版,通過使用三電平脈沖幅度調(diào)制(PAM3),將USB4數(shù)據(jù)速率從現(xiàn)有的USB 40 Gbps提高到USB 80 Gbps。更快的數(shù)據(jù)傳輸速度增加了為確保USB主機和設備之間的互操作性所需測試的復雜性。

為了滿足開發(fā)人員對新版本USB的測試需求,力科在其QPHY-USB4-Tx-Rx物理層合規(guī)性測試軟件中增加了對更高數(shù)據(jù)速率的USB4 2.0物理層測試的支持。此外,還在其廣泛使用的SDAIII CompleteLinQ串行數(shù)據(jù)抖動、眼圖、噪聲和串擾分析軟件中添加了USB4 2.0物理層測試 PAM3抖動和眼圖分析功能。

USB-IF主席兼首席運營官Jeff Ravencraft表示:

“ 我們很高興看到力科持續(xù)支持USB4 2.0物理層測試規(guī)范的物理層更新?!?/section>

力科將在華盛頓西雅圖君悅酒店舉行的USB開發(fā)者日上展示新的測試能力。本次活動將是第一次關于USB 2.0的深入技術會議,將討論USB4 2.0物理層測試規(guī)范更新,以實現(xiàn)USB4 80 Gbps數(shù)據(jù)性能。

USB4 2.0物理層測試